聚創 EDXRF技術金屬元素X熒光分析儀JC-350X

 聚創 EDXRF技術金屬元素X熒光分析儀JC-350X

一、產品介紹 

   能量色散X熒光分析儀利用EDXRF技術，采用X光管產生X射線激發樣品，先進的SDD探測器探測元素特征X射線，2048道數字化全譜分析，可以分析包括輕元素在內幾十種元素，具有分析速度快、分析精度高、分析范圍廣、穩定性好、操作簡單等特點。

   在銅合金等金屬制造行業中，材料、半成品、成品的質量保證與質量控制(QA/QC，該儀器是質量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的常備儀器。生產者可以控制合金中的元素各成分含量，提高產品性能、減少次品和廢品，提高經濟效益。

二、主要用途

主要用于銅合金、鋁合金、鋅合金、鑄鐵等原材料檢驗，冶煉生產過程成分控制，成品元素成分定值，爐前合金的快速分析和成品分析。

三、性能特點

☆.采用了美國新型的電致冷硅漂移SDD半導體探測器，具有高分辨率（125eV）和高探測效率;

☆.采用高真空度測樣裝置，消除了空氣對低能X射線的阻擋，滿足RoHS或合金檢測時對輕元素的準確分析；

☆.采用大功率的正高壓X光管和高壓發生器，提高了對輕重元素的檢測下限，實現了對多種元素的同時快速檢測分析；

☆.自動開蓋，無限平臺的設計適應多種不同大小規格樣品的檢測，可以測量固體、 液體、粉末樣品；

☆.內置彩色CCD攝像頭，使用戶可以精確定位檢測區域及時記錄所測樣品圖像信息；

☆.一體化的設計，使得儀器的性能穩定可靠、故障率低；

☆.采用USB-CAN適配器與計算機進行通信，使用方便；

☆.自動切換的濾片裝置有效的降低了光管的散射本底，提高了儀器測量的峰谷比和分辨率，使得重元素和微量元素的測量更準確；

☆.先進的全數字化多道譜儀讓儀器測量時的數據采集和處理更加快速準確，極大的提高了儀器的穩定性和抗干擾的能力；

☆.自帶數據庫管理系統的全中文測量軟件讓儀器的測量更加方便，操作更加簡單；

☆.多重安全的防護設計，使儀器的整機輻射符合國家輻射防護標準，讓用戶用的放心。

四、技術指標

1.分析元素范圍：Na-U

銅合金：Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等；

鑄鐵：Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等；

不銹鋼：Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等；

2.元素含量分析范圍：0.07ppm～99.9%；

3.探測器：電致冷硅漂移SDD半導體探測器（分辨率優于139eV）;

4.測量范圍：1～45KeV；

6.高壓：5kV～50kV；

7.管流：5μA～1000μA；

8.整機額定功率：50W；

9.CDD攝像頭分辨率：500萬像素；

10.真空泵額定功率：550W；

11.10秒鐘真空度可達10-2Pa （高真空區域10-1～10-5Pa）;

12.檢測時間：120s～300s（時間隨樣品不同可調整）;

13.儀器重量：65Kg；

14.儀器尺寸：720（W）X440（D）X435（H）mm

 聚創 EDXRF技術金屬元素X熒光分析儀JC-350X